深度學(xué)習(xí)| 識(shí)別并解決深度學(xué)習(xí)軟件的局限性

時(shí)間:2019-04-12

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導(dǎo)語(yǔ):傳統(tǒng)的機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)方法以一種正常的模式定義了缺陷標(biāo)準(zhǔn),例如亮度和半徑,這需要手動(dòng)設(shè)置閾值。因此,必須對(duì)圖像中的目標(biāo)對(duì)象的每一個(gè)潛在缺陷進(jìn)行量化。

傳統(tǒng)的機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)方法以一種正常的模式定義了缺陷標(biāo)準(zhǔn),例如亮度和半徑,這需要手動(dòng)設(shè)置閾值。因此,必須對(duì)圖像中的目標(biāo)對(duì)象的每一個(gè)潛在缺陷進(jìn)行量化。

使用深度學(xué)習(xí)軟件,基于樣本的算法,利用可接受的產(chǎn)品和不可接受的產(chǎn)品的圖像進(jìn)行訓(xùn)練,這與需要手動(dòng)設(shè)置缺陷標(biāo)準(zhǔn)的基于規(guī)則的算法不同。通過(guò)深度學(xué)習(xí)算法,軟件能自動(dòng)學(xué)習(xí)和分析缺陷標(biāo)準(zhǔn),并區(qū)分正常的和有缺陷的目標(biāo)圖像。

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圖1:SuaKIT提供分割、分類與檢測(cè)以及四種不同的深度學(xué)習(xí)架構(gòu)。

然而,訓(xùn)練深度學(xué)習(xí)模型需要大量的圖像數(shù)據(jù),顯示可接受和不可接受的部分。雖然獲完好產(chǎn)品的圖像相對(duì)容易,但是缺陷圖像卻比較稀少,因此很難對(duì)缺陷標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行量化。

為了解決缺乏缺陷數(shù)據(jù)的問(wèn)題,數(shù)優(yōu)公司(SUALAB)的工程師依靠的是該公司SuaKIT深度學(xué)習(xí)軟件的“OneClass學(xué)習(xí)”功能中的數(shù)據(jù)增強(qiáng)技術(shù)。

“數(shù)據(jù)增強(qiáng)通過(guò)脫色、翻轉(zhuǎn)或旋轉(zhuǎn)來(lái)轉(zhuǎn)換圖像,”SUALAB市場(chǎng)營(yíng)銷經(jīng)理HanjunKim解釋說(shuō),“它還可以創(chuàng)建具有不同亮度的圖像,從而減少由于光學(xué)條件變化而引起的問(wèn)題?!?/p>

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圖2:使用“分割”功能,可以準(zhǔn)確地檢測(cè)缺陷的位置、面積和形狀。

深度學(xué)習(xí)算法的黑盒子特性,使得追蹤問(wèn)題變得較為困難,當(dāng)涉及到理解某些部分失敗的原因時(shí),會(huì)讓用戶感到茫然。

SuaKIT的可視化調(diào)試器功能,可以幫助用戶找到深度學(xué)習(xí)算法識(shí)別出缺陷的部分??梢暬{(diào)試器還能識(shí)別深度學(xué)習(xí)算法使用的標(biāo)準(zhǔn)。

縮短產(chǎn)品生命周期和混合模型處理,也對(duì)制造領(lǐng)域的實(shí)際深度學(xué)習(xí)應(yīng)用提出了挑戰(zhàn)。每當(dāng)出現(xiàn)新類型的缺陷或引入產(chǎn)品變更時(shí),用戶必須開(kāi)發(fā)新的深度學(xué)習(xí)模型,這無(wú)疑將消耗時(shí)間和資源。SuaKit通過(guò)一種稱為“域適應(yīng)”的遷移學(xué)習(xí)法克服了這些問(wèn)題,該遷移學(xué)習(xí)利用相關(guān)源域中的預(yù)標(biāo)記數(shù)據(jù)來(lái)執(zhí)行新任務(wù)。Kim解釋說(shuō),通過(guò)利用圖像數(shù)據(jù)和現(xiàn)有產(chǎn)品模型等資源,可以減少新產(chǎn)品中缺陷檢測(cè)所需的資源。

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圖3:應(yīng)用“檢測(cè)”功能,可以在單幅圖像中檢測(cè)各種類型的目標(biāo)對(duì)象,并進(jìn)行分類。

深度學(xué)習(xí)軟件(SuaKIT等)的應(yīng)用取代了人眼視覺(jué)檢查的需求,允許檢查人員解放出來(lái)并轉(zhuǎn)移到工廠內(nèi)的其他制造過(guò)程或任務(wù)中,從而提高生產(chǎn)率。例如,印制電路板(PCB)具有復(fù)雜的電路圖案,對(duì)于PCB上的缺陷檢測(cè),傳統(tǒng)的機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)方法(如模式匹配)可以找出主圖像和捕獲的產(chǎn)品圖像之間的差異,但深度學(xué)習(xí)技術(shù)更有效。

“在一家部署了SuaKIT的工廠中,使用傳統(tǒng)機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)方法識(shí)別有缺陷的產(chǎn)品時(shí),準(zhǔn)確率低于40%。而且過(guò)檢率(over-detectionrate)也很高,即使在自動(dòng)檢查完成后,也至少需要三名檢查員再手動(dòng)檢查產(chǎn)品?!盞im說(shuō),“采用SuaKIT深度學(xué)習(xí)軟件,將檢測(cè)準(zhǔn)確度提高到了97.4%,并且在該應(yīng)用中的過(guò)檢率大大降低,減少了需要檢查的圖像數(shù)量?!?/p>

深度學(xué)習(xí)軟件提供了一種比傳統(tǒng)的基于規(guī)則的機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)更有效的替代方案,當(dāng)然它仍然存在一些局限性。一旦這些局限性被克服后,深度學(xué)習(xí)將真正幫助用戶在生產(chǎn)流程方面,實(shí)現(xiàn)大幅改進(jìn)。


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