設想一下：如果你驅車以每小時75英里的速度在高速公路上疾馳，一邊駕駛著2006才購買的新車，一邊欣賞著Steve Miller的Greatest Hits樂曲。突然間，引擎管理系統(tǒng)或穩(wěn)定控制系統(tǒng)失效。如果出現(xiàn)這一幕，您不僅僅可能會遭遇嚴重或可能是致命的車禍，而且車廠也可能被毀譽一旦，假設類似情況不止你一個的話。 隨著汽車從純機械設備向現(xiàn)代高度集成的線控駕駛汽車電子系統(tǒng)發(fā)展，設計工程現(xiàn)在面臨越來越多的挑戰(zhàn)。它們必須持續(xù)把復雜的電子設備添加到每一個后續(xù)車型年，與此同時，仍然要維持高標準的品質和可靠性，并滿足嚴格的低成本和大批量生產的要求。 傳統(tǒng)上，這些開發(fā)商一直采用微控制器（MCU）、ASIC和碩大的線束來實現(xiàn)和控制這些系統(tǒng)并擴展每一代汽車的性能。目前，這些技術已經逼近了它們的極限，并因復雜性呈指數(shù)增長而引發(fā)了對可靠性問題的關注。為了解決這些問題，許多設計工程師正在轉向采用FPGA作為下一代汽車電子設計的靈活和低成本的解決方案。 太空射線引發(fā)的故障 為了確保現(xiàn)代汽車中各種系統(tǒng)的功能運轉正常，必須對元器件提出可靠性數(shù)據(jù)的要求。雖然人們掌握元器件可靠性的大部分原理，但是，在選擇可編程邏輯器件如FPGA的過程中，要把一些獨特的問題納入應該考慮的因素。 明確地說，技術決策人要預見到將影響可編程邏輯系統(tǒng)的故障源。雖然來自太空（宇宙射線）的中子轟擊的概念聽起來就像蹦出Star Trek的插曲，中子導致的錯誤現(xiàn)實上對許多類型的電子設備都有危害。 中子導致的固件錯誤（firm error）已經從一件麻煩事變?yōu)橹卮髥栴}。例如，如果中子導致基于SRAM（基于靜態(tài)）的FPGA的（以下簡稱：SRAM FPGA）配置單元被擾亂，就可能導致功能喪失。如果出現(xiàn)這種情況，它就可能造成主系統(tǒng)失常。展望未來，這種問題將更為嚴重，因為將來的深亞微米制造工藝將持續(xù)為基于FPGA的汽車電子系統(tǒng)的設計工程師帶來實實在在的挑戰(zhàn)。 在集成電路內部由中子造成的單事件擾亂（SEU）可能在各種類型非易失性存儲單元中都會出現(xiàn)。上述SRAM FPGA采用內部存儲單元來保持FPGA的配置狀態(tài)或（個性）。這些存儲器單元面對更為嚴重的可靠性威脅。當內容被改變的時候，它被稱為“軟錯誤”，因為是數(shù)據(jù)錯誤，而功能不受影響。雖然該器件可以采用校正數(shù)據(jù)成功地重新寫入，對SRAM數(shù)據(jù)和寄存器可以分別采用EDAC（錯誤檢測和校正）或TMR（隧道磁阻）。軟錯誤可能導致數(shù)據(jù)丟失或“系統(tǒng)出現(xiàn)意外故障”。 如果SRAM FPGA配置存儲器單元受到破壞，那就稱為“固件錯誤”，因為這些錯誤不易檢測或校正并且本質上不是瞬時現(xiàn)象。一旦在FPGA中出現(xiàn)固件錯誤，必須采用初始配置對該器件進行重新載入。在一些情況下，必須重新上電以清除故障，然后，重新配置。 這些配置單元中，只要有一個遭遇中子導致的SEU，后果都是嚴重的。如果配置為被擾亂并改變狀態(tài)，它可能會改變整個器件的功能，導致重大數(shù)據(jù)崩潰或向系統(tǒng)中的其它電路發(fā)送虛假的信號。在極端情況下，如果固件錯誤長期未被檢測到其存在，那么，就能變成“硬故障（hard errors）”并對器件本身或包含該器件的系統(tǒng)造成破壞。這類問題的常見例子是：中子導致的穩(wěn)故障把信號導向錯誤的路徑，從而造成短路。 對于采用SRAM FPGA的、執(zhí)行重要任務的汽車電子應用系統(tǒng)，中子導致的錯誤有著重要的影響。現(xiàn)有的檢測技術，每隔一定間隔讀回FPGA的配置，對防止系統(tǒng)內的錯誤毫無幫助。 此外，能夠檢測受破壞配置的讀回電路本身就易于遭受SEU或破壞。進一步說，在檢查汽車系統(tǒng)抗中子導致的錯誤中，隨著易受影響的FPGA技術的廣泛應用，人們要求把創(chuàng)新的質量認證體系添加到AEC-Q100標準之中，以補充JEDEC標準 89的不足。當前檢測和校正FPGA固件錯誤的方案增加了系統(tǒng)設計的額外復雜性，并增加了電路板的大小和物料的成本，從而增加了發(fā)現(xiàn)中子導致的錯誤的“成本”。 中子導致的固件錯誤可能對整個系統(tǒng)按時間計算的故障（FIT）率影響很大。由于難以檢測和幾乎不可能診斷，軟和穩(wěn)故障可能引發(fā)維護和服務問題，從而有可能造成擔保費用攀升。在三種主流FPGA技術—反熔絲、閃存和SRAM—之中，只有反熔絲和閃存免受抗中子導致的軟錯誤和固件錯誤的影響。 實例：具有SRAM FPGA的汽車系統(tǒng) 本例分析一個安裝在駕駛室內地板中的系統(tǒng)。中子射線密度以Denver計算，元素鈷放置在5000英尺的高處，用SpaceRad 4.5（一種廣泛應用的輻射效應預測軟件程序）工具測量。根據(jù)已出版的關于0.22um SRAM FPGA的輻射數(shù)據(jù)，每天每1百萬門FPGA的預測擾亂率為1.05E-4。 如果供應商在乘員傳感器和氣袋控制模塊中部署1百萬門SRAM FPGA，把每天每1百萬門器件為1.054E-4的擾亂率乘以每天每系統(tǒng)為模擬4.38E-06的擾亂率或4375FIT。這意味著，如果同一供應商在50萬輛車中采用基于1百萬門SRAM FPGA的安全系統(tǒng)，把擾亂數(shù)1.05E-4乘以路上的車輛/系統(tǒng)的數(shù)量，就得到所有車輛每天有52.5的總擾亂數(shù)（假設車輛做恒速工作）。 這就相當于每27.4分鐘出現(xiàn)一次擾亂。即使對于每天兩小時的中等車輛使用率，仍然有每天兩次擾亂。因為這些都是穩(wěn)故障，它們都將持續(xù)下去，直到SRAM FPGA被二次加載（通常要重新上電或強迫配置）。 在目前的半導體技術中，器件中的軟錯誤已經受到高度關注。隨著器件尺寸持續(xù)縮小，人們廣泛認為這些軟錯誤將成為主要問題。這些錯誤可能常常極大地降低系統(tǒng)的可用性。為了把系統(tǒng)的可用性維持在可以接受的水平，人們強烈要求避免出現(xiàn)軟錯誤。 未來要做的工作 當選擇FPGA的時候，至關重要的是評價每一種可編程架構所有權的總成本，并識別具有本質上可靠的內核技術的供應商，不要采用為低檔次要求應用而設計的二等品質的商用產品。 對于采用SRAM FPGA的設計工程師來說，有必要實現(xiàn)檢測和校正配置錯誤的電路，盡管這會增加系統(tǒng)成本和復雜性。此外，輻射測試數(shù)據(jù)表明，反融絲和基于閃存的FPGA不易于出現(xiàn)因中子導致的擾亂而造成的配置丟失。這使它們特別適用于可靠性要求高的應用。 現(xiàn)在，想象以下稍微不同的外景：你以每小時75英里的速度駕駛著新的2006車型在高速公路奔馳，耳畔聆聽著優(yōu)美的Steve Miller的Greatest Hits樂曲。由于對引擎管理系統(tǒng)中采用的基于非易失性閃存的FPGA充滿信心，你推桿加速狂飆，體驗著極速帶來的快樂，享受著舒適和無故障的旅行。