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IGBT模塊在薄膜電容分容機(jī)中的應(yīng)用

時(shí)間:2009-04-25 14:37:53來源:chendong

導(dǎo)語:?介紹了絕緣柵雙極晶體管(IGBT)在薄膜電容分選機(jī)中的應(yīng)用情況,分析了IGBT在實(shí)際應(yīng)用中應(yīng)注意的問題。
摘要:絕緣柵雙極晶體管(IGBT)因其性能優(yōu)越、控制方便而廣泛應(yīng)用于電源、變頻調(diào)速裝置和電動(dòng)汽車等領(lǐng)域。介紹了絕緣柵雙極晶體管(IGBT)在薄膜電容分選機(jī)中的應(yīng)用情況,分析了IGBT在實(shí)際應(yīng)用中應(yīng)注意的問題。 關(guān)鍵詞:絕緣柵雙極型晶體管;薄膜電容;分選機(jī) [b]1 薄膜電容分選機(jī)介紹 [/b]  薄膜電容分選機(jī)是薄膜電容器生產(chǎn)工藝中的重要設(shè)備之一。它具有容量不足(C0)檢測、直流充放電(dVIdt)測試、直流耐壓檢測(DCTV)、絕緣電阻(IR)檢測、損耗及電容容量(DI&AC—D2)測試及分選功能。直流充放電(dV/dt)測試是一項(xiàng)重要的測試。   它的主要作用是剔除那些因原材料和工藝上有明顯缺陷而使絕緣強(qiáng)度顯著降低的電容器。 2 直流充放電(dV/dt)測試的原理   根據(jù)對故障電容器的分析,絕緣強(qiáng)度降低大多數(shù)是電容器被擊穿。電容器的擊穿是電容器在工作過程中由于電介質(zhì)或絕緣體被破壞而導(dǎo)致短路的現(xiàn)象。 電介質(zhì)的擊穿主要分為以下3種情況:   1)電擊穿:加在電介質(zhì)上的電壓使電介質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)遭到破壞,致使出現(xiàn)很大的傳導(dǎo)電流而使兩極短路。   2)熱擊穿:電介質(zhì)在長期工作時(shí)產(chǎn)生的熱量大于散出的熱量,使介質(zhì)熱崩潰,發(fā)生在高頻、高壓下。   3)老化擊穿:電介質(zhì)在電場長期作用以及外界因素的促使下老化,電性能明顯下降的現(xiàn)象。在生產(chǎn)工廠主要針對前兩種擊穿進(jìn)行試驗(yàn)。因此直流充放電測試裝置主要由3個(gè)部分組成:直流高壓發(fā)生電路,頻率產(chǎn)生和邏輯控制接口電路,充放電開關(guān)電路。   根據(jù)薄膜電容器的生產(chǎn)工藝,不同耐壓值的產(chǎn)品使用的測試電壓不同。對于小型電容器,耐壓最高可達(dá)1000V。因此,需要選擇合適的器件作為電子開關(guān)。而絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)既具有金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(MOSFET)的快速響應(yīng)、高輸入阻抗等特點(diǎn),又具有雙極結(jié)型晶體管(BJT)的低通態(tài)壓降、高電流密度的特性,適于在這種場合應(yīng)用。 3 IGBT工作原理   絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)是80年代中期問世的一種復(fù)合電力電子器件.其輸入控制部分為MOSFET,輸出級為雙級結(jié)型三極晶體管。因此,兼有MOSFET和電力晶體管的優(yōu)點(diǎn),即高輸人阻抗、電壓控制、驅(qū)動(dòng)功率小、開關(guān)速度快等,工作頻率可達(dá)到10~40kHz(比電力三極管高),飽和壓降低(比MOSFET小得多,與電力三極管相當(dāng)),電壓、電流容量較大,安全工作區(qū)域?qū)?。IGBT本質(zhì)上是一個(gè)場效應(yīng)管.只是在漏極和漏區(qū)之間多了一個(gè)P型層。它的開關(guān)特性非常接近功率MOSFET,而且導(dǎo)通特性也不受工作電壓影響。IGBT有3個(gè)電極,見圖1。
  柵極G、發(fā)射極E和集電極C。輸入部分是一個(gè)MOSFET管,輸出部分為一個(gè)三極管。當(dāng)柵極G與發(fā)射極E之間的外加電壓UGE=0時(shí),MOSFET管內(nèi)無導(dǎo)電溝道,IC=0,MOSFET處于斷態(tài)在柵極G與發(fā)射極E之間的外加控制電壓,可以改變MOSFET管導(dǎo)電溝道的寬度,從而控制了IGBT管的集電極電流。當(dāng)足夠大時(shí)(例如15V),則IGBT進(jìn)入通態(tài)。一旦撤除UGE,即UGE=0,則IGBT器件從通態(tài)轉(zhuǎn)人斷態(tài)。 [b]4 IGBT的選擇 [/b]  通常情況下,選擇IGBT模塊時(shí)主要應(yīng)考慮器件的額定電壓和額定電流。根據(jù)生產(chǎn)廠家提供的資料(如日本三菱公司的應(yīng)用手冊),正確選用IGBT有兩個(gè)關(guān)鍵因素:一是在器件關(guān)斷時(shí),在任何被要求的過載條件下,集電極峰值電流都必須小于兩倍的額定電流。二是IGBT工作時(shí)內(nèi)部結(jié)點(diǎn)溫度必須始終保持在150°C以下。在任何情況下,包括負(fù)載過載時(shí).都必須如此。其次要防止IGBT因過電壓或過電流引起損壞或工作不穩(wěn)定,必要時(shí)應(yīng)降額使用,以保證應(yīng)用電路的可靠及穩(wěn)定。 5 IGBT驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)   IGBT器件在理論上十分容易控制.只要在其柵極施加一定的電壓就可使器件導(dǎo)通,撤掉該電壓后器件關(guān)斷。但在實(shí)際應(yīng)用中要注意以下幾點(diǎn)。   1)驅(qū)動(dòng)電路能提供一定幅值的正反向柵極電壓。在開通時(shí),要大于器件的開通閥值但不可超過+20V。關(guān)斷時(shí),必須為IGBT器件提供一個(gè)-5~-l5V的,以便縮短關(guān)斷時(shí)間,提高IG—BT器件工作的可靠性。   2)驅(qū)動(dòng)電路應(yīng)有隔離的輸人、輸出信號功能,同時(shí)信號在驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)部傳輸無延時(shí)或延時(shí)很短。   3)在柵極回路中必須串聯(lián)合適的柵極電阻R0增大時(shí),IGBT開關(guān)時(shí)間長,開關(guān)損耗加大;R0太小時(shí),導(dǎo)致IGBT柵極、發(fā)射極之間振蕩,引起IGBT集電極產(chǎn)生尖峰電壓,使IGBT損壞。4)驅(qū)動(dòng)電路應(yīng)具有過電壓保護(hù)能力,并有較強(qiáng)的抗干擾能力。   目前.生產(chǎn)IGBT器件的廠家生產(chǎn)了多種專用驅(qū)動(dòng)電路可供選擇,如日本三菱公司生產(chǎn)的專用驅(qū)動(dòng)模塊M57962AL2J,它的內(nèi)部組成見圖2,其各管腳功能分別是:13和14腳是驅(qū)動(dòng)信號輸入端,4腳是正電源端;6腳是負(fù)電源端:1腳和2腳是故障信號輸入端:   
M57962AL的主要特點(diǎn)有: 1)高速輸入、輸出隔離,絕緣強(qiáng)度高達(dá)AC2500V/min。 2)輸入、輸出電平與1TrL電平兼容,適于單片機(jī)控制。 3)內(nèi)部有定時(shí)邏輯短路保護(hù)電路,同時(shí)具有延時(shí)保護(hù)特性: 4)具有可靠通斷措施(采用雙電源); 5)驅(qū)動(dòng)功率大,可以驅(qū)動(dòng)600A/600V或400A/1200V的IGBT模塊。 6 實(shí)際應(yīng)用   在這次應(yīng)用中,生產(chǎn)工藝要求充電電壓達(dá)到1kv,放電電流達(dá)到400A。因此,我們選用了Et本三菱公司的兩單元IGBT模塊(600A/1200V)作為對電容進(jìn)行充放電的開關(guān)。用兩只M57962AL分別驅(qū)動(dòng)上管和下管,保證不會(huì)使IGBT兩管直接導(dǎo)通。直流電壓通過IGBT對被測電容充放電過程如下:
  參考圖3,充電脈沖為高電平時(shí),IGBT模塊上管導(dǎo)通,下管截止,電流流經(jīng)C1-E1C2對被測電容器充電;放電脈沖為高電平時(shí),IGBT模塊上管截止,下管導(dǎo)通,被測電容上的電荷通過EIC2一E2釋放 7 結(jié)束語   絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)作為一種復(fù)合電力電子器件,因其性能優(yōu)越、控制方便等優(yōu)點(diǎn)已經(jīng)在電源、交流電機(jī)變頻調(diào)速裝置和電動(dòng)汽車等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。這個(gè)項(xiàng)目將IGBT器件應(yīng)用到了新的電子專用設(shè)備領(lǐng)域,使其工作在直流及容性負(fù)載中,在充分掌握了這種器件的各種特性后,IGBT器件的應(yīng)用領(lǐng)域會(huì)更廣闊。 [b]參考文獻(xiàn): [/b][1]周志敏,周紀(jì)海,紀(jì)愛華.IGBT和IPM及其應(yīng)用電路[M].北京:人民郵電出版社,2006. [2]溫家伶,陳明清,IGBT驅(qū)動(dòng)模塊M57962AL的應(yīng)用研究U1.機(jī)電產(chǎn)品開發(fā)與創(chuàng)新,2002,15(6):36—37. [3]王毓銀.脈沖與數(shù)字電路[M]2版.北京:高等教育出版社,1993.

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