1　概述 　　近年來，隨著城市電網(wǎng)建設的發(fā)展，GIS變電站的數(shù)量不斷增加。目前，河南省內GIS變電站已接近40座，預計今后幾年內還將繼續(xù)增加。由于GIS設備的運行電壓高、其內空間極為有限，導致GIS設備的工作場強很高。另一方面，GIS設備中絕緣裕度相對較小，在嚴格控制的環(huán)境條件下，GIS設備中SF6氣體的擊穿強度可望達到相當高的水平，但實際通常只能達到期望值的一半，甚至更低。一旦GIS設備內部出現(xiàn)某種缺陷，極易發(fā)生設備故障。隨著GIS變電站數(shù)量的增多，GIS設備發(fā)生故障的幾率也在增加。由于以往人們認為GIS設備屬于免維護設備，加之GIS變電站數(shù)量較少，監(jiān)測設備故障的手段和措施相對有限。因此，加強和完善GIS設備交接試驗以及GIS設備的運行監(jiān)測，對保障GIS設備的安全運行具有重要意義。 　　研究表明，GIS設備內部故障以絕緣性故障為多。2001年河南省發(fā)生的3起GIS設備故障均為絕緣性故障。國內其它省份亦有類似情況。GIS設備的局部放電往往是絕緣性故障的先兆和表現(xiàn)形式。一般認為，GIS設備中放電使SF6氣體分解，嚴重影響電場分布，導致電場畸變，絕緣材料腐蝕，最終引發(fā)絕緣擊穿。實踐證明，開展局部放電檢測可以有效避免GIS事故的發(fā)生。目前，河南省有關部門正在研究和制定GIS設備局部放電測量的具體實施方案，擬將GIS設備局部放電測量列入GIS設備交接試驗和運行監(jiān)測項目。 [b]2　GIS設備局部放電檢測方法 [/b]　　GIS設備局部放電既是內部絕緣故障的先兆，又是絕緣故障的典型表現(xiàn)。 　　2．1　GIS設備內部常見缺陷 　　a．GIS設備中固體絕緣材料內部的缺陷　如生產(chǎn)工藝過程中殘存在盆式絕緣子內部或與導體交界處的氣隙。 　　b．GIS設備內殘留自由導電微粒，如金屬碎屑或金屬顆?！∵@是較為普遍存在的一種缺陷，一般是由于制造、安裝等原因造成的。 　　c．GIS設備中的導體表面存在突出物，如毛刺、尖角等　這種缺陷易發(fā)生電暈放電，在穩(wěn)定的運行電壓下一般不會引發(fā)絕緣擊穿，但在沖擊電壓下可能導致絕緣擊穿。 　　d．GIS設備內的導體接觸不良等。 　　上述缺陷往往可以引發(fā)GIS設備局部放電。 　　2．2　GIS設備內部缺陷產(chǎn)生局部放電的特征 　　a．發(fā)生在導體周圍的電暈放電，由于氣體中的分子是自由移動的，因此GIS設備中的電暈放電過程與空氣中的電暈放電相似。 　　b．GIS設備中絕緣子內部的氣隙放電在工頻正負兩個半周內基本相同，即正負半周放電指紋基本對稱。放電脈沖一般出現(xiàn)在試驗電壓幅值絕對值的上升部分，放電頻率依賴于所加電壓大小，只有在放電強烈時，才會擴展到電壓絕對值下降部分的相位上，且每次放電的大小不相等。絕緣子缺陷在出廠時可能并不出現(xiàn)，但在運輸及安裝過程中有可能造成損傷。一些缺陷最初可能無害，只是在機械振動和靜電力作用下可能輕微移動，形成潛在的隱患。 　　c．絕緣子表面的缺陷（如污穢等）有助于表面電荷的增加，可能會形成表面放電，導致絕緣子表面的絕緣劣化，甚至擊穿。 　　d．自由導電微粒和固體導體上金屬突起放電的相位分布有著明顯不同。這個特征通?？梢杂脕韰^(qū)分缺陷的類型。GIS設備中自由導電微粒有積累電荷能力，在交流電壓作用下，靜電力可使導電微粒在GIS筒內跳動，如直立旋轉、舞動運動等。這種運動與放電的出現(xiàn)在很大程度上是隨機的，這一過程與所加電壓大小以及微粒的特性有關。如果一個跳動的微粒接近或運動至GIS設備中的高場強區(qū)時，伴隨產(chǎn)生的局部放電有可能形成導電通道，造成絕緣擊穿。相對而言，GIS設備內殘留的金屬碎屑或金屬顆粒產(chǎn)生的各種效應是最為嚴重的，因此，金屬顆粒的放電對GIS設備的危害相對較大。