1.環(huán)形光源（LQ-HDRmmnn-C）：

光出射角度值在0°~90°。

0°~45°為低角度環(huán)形光源，目前應(yīng)用案例包括手機(jī)金屬外框劃痕檢測(cè)、光滑表面的劃痕、破損檢測(cè)以達(dá)到突顯物體輪廓及劃傷，破損的效果

60°~90°光出射角度集中照射被測(cè)物表面，突顯物體的表面對(duì)不同特性，應(yīng)用案例有：電感錫面檢測(cè)，USB接口網(wǎng)線接口等不同數(shù)據(jù)接口的pin針檢測(cè)，高爾夫球T端面檢測(cè)，以及平面噴碼檢測(cè)。

2.條形光源（LQ-HBLmmnn-C）

這款光源的特點(diǎn)為尺寸靈活小巧，可適應(yīng)不同位置，主要適用于檢測(cè)較大方形結(jié)構(gòu)被測(cè)物效果明顯。

目前應(yīng)用案例包括裂紋，一維二維碼讀取。注塑件毛邊檢測(cè)，高爾夫球Tee文字檢測(cè)。

3.四面可調(diào)光源(LQ-SQLmm-C)：

四個(gè)獨(dú)立可調(diào)的條形光源，可獨(dú)立控制亮度，安裝靈活，高亮度，高精度照明。應(yīng)用領(lǐng)域：四側(cè)引腳扁平封裝的檢查。二維碼讀取，陶瓷包裝表面檢查。

4.圓頂無影光源（LQ-DMLmm-C）：

光線經(jīng)過球面漫射板反射之后，光滑，均勻的照射在被測(cè)物體上，適用于被測(cè)物表面起伏不平，反光的物體。應(yīng)用案例進(jìn)行曲面，表面凹凸，弧形檢測(cè)。金屬嗎、，玻璃反光較強(qiáng)的表面檢測(cè)。

5.底部背光源（LQ-HFLmmnn-C）：

底部發(fā)光的標(biāo)準(zhǔn)背光源可應(yīng)用于顯微鏡載物臺(tái)，突出被測(cè)物的外形輪廓并由高密度的LED陣列提供高亮度的背光照明。應(yīng)用于透明物體的毛邊，污漬，劃痕檢測(cè)。

6.方形無影光源（LQ-PSFmm-C）：

適用于矩形和不規(guī)則被測(cè)物，提供矩形視野。應(yīng)用案例：電池板斷線檢測(cè)，手機(jī)貼棉，貼膜位置邊緣校正，一維，二維碼識(shí)別。

7.AOI專用光源（LQ-HRLmmm-RGB）：

具有高亮度，均勻性好，空間分辨率高的特點(diǎn)；由三組獨(dú)立控制的環(huán)形光源以高中低不同角度照射電路板，很好的把電路板上的元件電極、焊盤、焊點(diǎn)等不用傾斜度的特征凸顯出來。應(yīng)用領(lǐng)域多層次物體檢測(cè)，插件焊點(diǎn)檢測(cè)，貼裝，焊錫檢測(cè)。

8.點(diǎn)光源（LQ-PTw-C）

采用獨(dú)特的聚光效果（導(dǎo)光柱）實(shí)現(xiàn)均勻的照射應(yīng)用利于包括液晶玻璃線路檢測(cè)，玻璃表面劃痕檢測(cè)，插頭底部字符檢測(cè)。

9.線性光源（LQ-LNSmm-C）：

線性光，高強(qiáng)度光照明，目前應(yīng)用案例：手機(jī)外殼表面凹凸點(diǎn)，劃痕，污漬檢測(cè)。使用特殊的鏡片使光線達(dá)到線性射出，并保持均勻，平滑。

10.同軸光源（LQ-CXLmm-C：

高強(qiáng)度均勻的光線通過分光鏡后與鏡頭同軸的光線，采用特殊材料抑制反光造成的重影。提高成像清晰度。適用于反光率高的被測(cè)便面的劃痕，印字檢測(cè)。應(yīng)用案例包括：激光打標(biāo)字符，二維碼識(shí)別，反光率高的物體表面的劃傷檢測(cè)。

聲明：本文為轉(zhuǎn)載類文章，如涉及版權(quán)問題，請(qǐng)及時(shí)聯(lián)系我們刪除（QQ: 2737591964），不便之處，敬請(qǐng)諒解！