集成電路檢測器ICS105同ICR型號的近場微探頭組合使用，可對集成電路（ICS105GND組套）和小型組件（ICS105UH組套）進行高頻近場測量。通過對集成電路的近場分析，能夠在高頻環(huán)境下對集成電路的內(nèi)部過程有準確了解。集成電路的干擾發(fā)射問題將通過測量予以分析，找出集成電路中產(chǎn)生干擾發(fā)射的部位。

圖1近場微探頭ICRHH150-27是一款帶有水平測量線圈的探頭，用于磁場測量。測量分辨率為50µm，測量范圍為1.5GHz至6GHz。

除了朗格爾電磁兼容技術有限公司的ICR型號近場微探頭之外，還可借助探頭支架SH01將手持式探頭或場源置入到ICS105之中（圖2）。

使用不同的ICR近場微探頭，可在(50x50x50)mm的空間范圍內(nèi)分別對磁場或電場進行測量，測量結果通過軟件CS-Scanner在電腦上顯示。此外，ICR近場微探頭可通過旋轉軸自動旋轉360°，以確定磁場的確切方向。借助視頻顯微鏡，可方便近場微探頭在測量目標上的精確定位。ICS105檢測器的最小步進值為10μm，可實現(xiàn)極高分辨率的測量（圖1）。

ICR型近場微探頭適用于1.5MHz至6GHz頻率范圍內(nèi)的測量，可達到的測量分辨率約為50μm。用于磁場測量的近場微探頭可提供兩種不同的基本規(guī)格。ICRHV近場微探頭帶有垂直測量線圈，ICRHH近場微探頭帶有水平測量線圈。ICRE近場微探頭的探針頭包括一個水平電極，用于電場測量。

不同類型的近場微探頭配置齊全，確保在完成各類眾多實際測量任務時能夠選取最佳的探頭型號。

使用近場微探頭可以進行下列測量：

-根據(jù)標準IEC61967-3進行集成電路表面掃描

-集成電路容量掃描

-針腳掃描

在測量過程中，只在相應測量目標上方移動數(shù)個µm，確保精準的近場數(shù)據(jù)采集。近場微探頭的外殼中內(nèi)置前置放大器，通過Bias-Tee偏置器供電。

圖2ICS105是一款桌上設備。緊湊的尺寸（350x400x420）mm和輕巧的重量（23kg）令其能夠方便安放在開發(fā)人員的工作臺上。

集成電路檢測器ICS105通過USB接口連接至電腦，通過朗格爾電磁兼容技術有限公司的軟件ChipScan-Scanner（CS-Scanner，芯片掃描器）進行控制（圖3）?？梢酝ㄟ^軟件控制實現(xiàn)近場微探頭的移動以及復雜測量流程的編程。

圖3測量時ICS105同頻譜分析儀和電腦相連。通過測量與分析軟件CS-Scanner對ICS105進行控制，對測量結果予以記錄。

由朗格爾電磁兼容技術有限公司研制的軟件CS-Scanner可實現(xiàn)對頻譜分析儀中的測量數(shù)據(jù)進行讀出、進行圖像顯示（2D或3D，圖4）、對測量數(shù)據(jù)的保存和輸出（CSV文件格式）。頻譜分析儀上的最重要設置也可通過軟件進行（圖5）。

圖4軟件ChipScan-Scanner生成3D容積掃描

圖5軟件CS-Scanner的操作界面。右側為用于所連接頻譜分析儀的操作面板。左上方為測量圖表和跟蹤管理器，對所有已進行的測量予以記錄。

輔以控制與分析軟件ChipScan-Scanner的集成電路檢測器ICS105

-通過電腦/筆記本進行控制

-零點位置、近場微探頭手動或基于腳本的移動

-從頻譜分析儀中讀出數(shù)據(jù)

-測量數(shù)據(jù)的2D或3D圖形顯示

-輸出成csv文件或圖形文件

-在集成電路上進行的自動測量：

-根據(jù)標準IEC61967-3進行集成電路表面掃描

-集成電路容量掃描

-針腳掃描