介紹

　　我們的物理解決方案能夠檢測低能量、高密度的X射線輻射（見圖1）。我們設(shè)計了專用的X射線探測器的讀數(shù)ASIC，如DEDIX[1]、RG64[2]和SXDR64[3]，這些都是用于讀取硅條探測器，以及諸如PX90[4]的芯片（該芯片采用90納米CMOS技術(shù)構(gòu)造，并用于讀取像素探測器（見圖2））。我們的芯片包含多達(dá)幾千個讀數(shù)通道，以單光子計數(shù)模式工作，這意味著如果某個撞擊探測器的光子的能量超過一定的閾值，讀數(shù)通道就可以對其計數(shù)。所有的芯片都包含模擬和數(shù)字部分，并具有數(shù)字通信接口，用于控制ASIC并輸出所采集的數(shù)據(jù)。每個接口可能有不同數(shù)量的針腳，可以與不同的數(shù)字I/O一起工作，速度高達(dá)200MHz。我們需要盡可能快地測試ASIC，得到結(jié)果并作進(jìn)一步的處理。

　　創(chuàng)建虛擬儀器

　　我們對ASIC進(jìn)行測試，以確保制作的芯片參數(shù)滿足要求。為此，我們需要與芯片進(jìn)行通信，以比特流的形式采集數(shù)據(jù)，并將其轉(zhuǎn)換為有意義的表示方式。然后，我們需要測量物理參數(shù)（在此案例中，即測量給定時間內(nèi)的光子數(shù)），并根據(jù)所獲取的數(shù)據(jù)計算ASIC模擬參數(shù)。我們需要以最佳的方式表示結(jié)果，從而盡可能地得到正確的結(jié)論。市場上沒有能夠滿足這種要求的現(xiàn)成設(shè)備，因此，我們決定使用NI產(chǎn)品自己開發(fā)。

　　我們的虛擬儀器（如圖3中的圖形用戶界面所示），是通過NIPXI機箱以及插在其中的模塊化設(shè)備構(gòu)建的，模塊化設(shè)備包括：用于快速計算的具有雙核處理器的NIPXIe-8106控制器，以及用于連接控制和數(shù)據(jù)信號傳輸?shù)腘IPXI-6562高速DIO模塊。我們還使用NIPXI-4071數(shù)字萬用表模塊以精確測量10分之幾nA范圍內(nèi)的芯片偏置電流，使用NIPXI-4110電源模塊以快速精確地控制需要的電位，使用NIPXI-6259多功能DAQ模塊來進(jìn)行各種其它測量，并控制模擬輸出電壓。

　　我們選擇美國國家儀器公司的設(shè)備，是因為它們具有覆蓋廣泛、并易于使用的驅(qū)動，通過LabVIEWAPI，可以在高級的應(yīng)用程序中很容易地使用它們。在測試過程中，我們需要為8個數(shù)字輸入線設(shè)置延遲（相對于輸出時鐘信號），使用LabVIEW和PXI-6562，只花費5分鐘便實現(xiàn)了該功能。

　　在與ASIC建立通信后，我們對數(shù)字比特流進(jìn)行分析，這對于觀察和調(diào)試專用的數(shù)字波形數(shù)據(jù)非常有用。我們從LabVIEW函數(shù)選板中選擇了一些函數(shù)來適當(dāng)?shù)丶羟小⒁苿右约稗D(zhuǎn)換比特流數(shù)據(jù)，并將其轉(zhuǎn)化為能夠代表X射線強度的表示方式。通過這些數(shù)據(jù)，我們可以計算ASIC參數(shù)，如增益、噪聲，以及通道或像素間的直流電平分布。我們還使用了許多數(shù)學(xué)函數(shù)，如差分、擬合（高斯函數(shù)和專用誤差修正函數(shù)），以及對數(shù)組和其它基本數(shù)據(jù)類型的各種操作。LabVIEW提供了所有這些函數(shù)，所以我們可以快速地實現(xiàn)這些應(yīng)用。

　　由于收集了大量的數(shù)據(jù)需要處理，所以設(shè)備的性能至關(guān)重要。例如，PX90芯片包含了一個32x40的陣列（共1,280像素），用于對射入的X-射線進(jìn)行計數(shù)，該芯片需要對一個模擬參數(shù)（閾值掃描）進(jìn)行測量，從而對所有的像素數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合。而如果想計算出芯片的校準(zhǔn)參數(shù)，則需要將這一測試過程重復(fù)256次。這意味著我們需要重復(fù)30萬次以上的數(shù)據(jù)擬合過程，而這一過程所耗的時間又是非常關(guān)鍵。使用LabVIEW2010，程序員可以配置for循環(huán)以利用多核處理器的性能。借助這一特性，我們在一個8核處理器上將計算速度提高了七倍以上。

　　結(jié)論

　　我們構(gòu)建了一個能夠可靠快速地測試產(chǎn)品的虛擬儀器。它采用了諸多種類的模塊化儀器，因此我們無需使用其它設(shè)備就可以完成必要的測試。我們的虛擬儀器構(gòu)建在LabVIEW所編寫的專用軟件的基礎(chǔ)上，因此用戶可以設(shè)置適當(dāng)?shù)臏y試配置、ASIC參數(shù)，并讀取數(shù)據(jù)，然后在圖形化用戶界面上顯示分析后的結(jié)果。正是由于基于NI產(chǎn)品構(gòu)建的這個系統(tǒng)方案，使得我們可以節(jié)省一年的測試時間。例如，日本Rigaku公司在高速、位置靈敏的探測器系統(tǒng)中采用了我們的一個產(chǎn)品[2]。隨著我們新的虛擬儀器的出現(xiàn)，用在測試設(shè)備中ASIC所花費的時間縮減至不到三個月。

　　參考文獻(xiàn)

　　[1]P.Gryboś,P.Maj,L.Ramello,K.Świentek,:MeasurementsofMatchingandHighRatePerformanceofMultichannelASICforDigitalX-RayImagingSystems,IEEETransactiononNuclearScience,vol.54,August2007,pp.1207-1215

　　[2]R.SZCZYGIEŁ,P.GRYBOŚ,P.MAJ,A.Tsukiyama,K.Matsushita,T.Taguchi:RG64–highcountratelownoisemultichannelASICwithenergywindowselectionandcontinuousreadoutmode,IEEETransactionsonNuclearScience;ISSN0018-9499.—2009vol.56no.2s.487–495

　　[3]M.Kachel,P.Grybos,R.Szczygiel„LowNoise64-ChannelASICforSi,GaAsandCdTeStripDetectors”NSS-MIC2009Conference.

　　[4]R.Szczygiel,P.Grybos,P.Maj,"APrototypePixelReadoutICforHighCountRateX-rayImagingSystemsin90nmCMOSTechnology",IEEETrans.Nucl.Sci.,vol.57,no.3,2010,p.1664-1674.

　　AuthorInformation:

　　PiotrMaj

　　AGHUniversityofScienceandTechnology

　　al.Mickiewicza30

　　Kraków30-059

　　Poland