2012 年2 月14 日，中國上海 –科學服務領域的世界領導者賽默飛世爾科技(以下簡稱：賽默飛) 有限公司將于2012年2月23-25日參展在中國國際展覽中心舉辦的 “CIPV EXPO2012 第四屆中國國際光伏產業(yè)新技術新材料新產品新設備展覽會”。歡迎廣大客戶朋友，到我公司展臺參觀、咨詢。
賽默飛是全世界最大的分析儀器生產商，其生產的X射線光電子能譜儀（XPS）、拉曼光譜儀(Raman)是新能源材料表征分析的有效手段。
賽默飛世爾科技 K-Alpha是一款完全集成的微聚焦單色化X射線光電子能譜（XPS）系統(tǒng)。性能卓越，成本降低，操作簡便和設計緊湊等特點，使得K-Alpha成為許多現有以及新研發(fā)的表面分析應用領域理想解決方案。利用Thermo Scientific K-alpha X射線光電子能譜儀(XPS)，可解決新能源材料中最具挑戰(zhàn)性的表面、薄層、界面等問題，幫助專注于新能源材料科學前沿的研究者們大大推動了其研究的進展。
沉積在玻璃或碳化硅上的硅廣泛用于生產光伏電池，無定形和微晶硅的比例與分布對于電池性能很關鍵，因此這兩種成分的檢測非常重要。拉曼光譜是非常適合這種應用的技術，因為這兩種形式的硅會產生極易分辨的不同拉曼光譜，并可采用比爾定律方法進行定量分析，同時可采用拉曼成像技術給出晶體硅與無定形硅空間分布的詳細信息。經證實，過高的激發(fā)激光功率會將無定形硅轉化為晶體硅，因此必須嚴格限制激光照射到樣品功率大小。特別是某個分析方法必須在多個生產工廠內與多個儀器上重復使用時，配備激光功率調節(jié)器的Thermo Scientific DXR 顯微拉曼光譜儀是此類應用的最佳選擇。
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