GE檢測控制參加蘇州2012傳感器MEMS國際會議

時間:2012-09-06

來源:GE檢測控制技術

導語:GE檢測控制技術參展2012傳感器與MEMS國際會議(CHInano2012),期待蒞臨指導!

2012傳感器與MEMS國際會議,將于2012年9月13日-14日在江蘇蘇州獨墅湖會議酒店隆重召開。GE檢測控制技術將在本屆展會上首次參與行業(yè)盛會 (展位8號),展示GE 在MEMS 領域的優(yōu)秀產(chǎn)品和領先技術。

在此次展覽會上,GE檢測控制技術重點展出新一代MEMS擴散硅壓力傳感器及其應用。這些產(chǎn)品以其領先的高科技技術為汽車、醫(yī)療、過程控制等行業(yè)客戶提供更環(huán)保,更智能,更高效的解決方案。

在展會期間,GE檢測控制技術通過產(chǎn)品介紹、樣品展示和觀眾互動交流等諸多方式,充分為與會者展示GE檢測控制技術相關產(chǎn)品應用和先進技術。屆時,我們的工程師和產(chǎn)品經(jīng)理將為您作現(xiàn)場講解和演示進行現(xiàn)場交流。

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